断层扫描技术可以用来分析冰淇淋

来自英国的研究人员开发了一种新的3D x射线断层扫描(XRT)方法，可以可视化温度变化对冰淇淋微观结构的影响。¹

冰淇淋是牛奶、脂肪、糖、蛋白质、乳化剂、稳定剂和香料的混合物，经过充气，然后冷冻形成一种柔软的固体，其中含有约30%的冰、50%的空气和5-15%的脂肪滴悬浮在糖溶液中。它的质量取决于它的冰晶和气泡的大小:较小的晶体和气泡使它更光滑和柔滑。由于这种复杂的胶体在-30˚C以上是不稳定的，它的微观结构会在运输和储存过程中发生变化(国内冰柜的温度通常在-18˚C左右)，这将影响它的味道和质地。

大多数技术只能看到2D切片的冰淇淋，或者在分析过程中改变其结构。研究人员此前曾使用XRT技术研究过冰淇淋的3D结构²但必须使用化学造影剂来达到10微米以下的分辨率。这项新的XRT技术是由曼彻斯特大学的Peter Lee和Enyu Guo及其同事开发的，与以前的方法相比，它有三个改进:它保持样品的低温以消除温度波动的变化，它提供了更好的固体、液体和气体之间的对比，它改进了成像软件以降低噪声。因此，它提供了比以前的XRT结果更精确的更高分辨率的图像。

李和郭在两周的时间里，将冰淇淋从-15℃慢慢加热到-5℃，然后慢慢冷却。利用他们的新技术，他们发现冰淇淋中的冰晶随着生长而变粗，但不断增长和相互连接的气泡也阻碍了冰晶的生长。这意味着气泡可以成为制造商延长冰淇淋保质期的有用工具。